Werkstoff- und Materialanalysen

Unser Angebot umfasst die Analyse von festen und flüssigen Materialien mit Nachweisgrenzen bis in den unteren ppB-Bereich und lateralen Auflösungen bis in den atomaren Bereich.  Wir untersuchen:

  • Stähle, andere Metalle und Halbleiter
  • Quantitative Zusammensetzung / Spurenelemente
    (ICP-MS, ICP-OES, RFA, SNMS, AAS, XPS/ESCA, EDX, Mikrosonde)
  • Oberflächenzusammensetzung
    (ToF-SIMS, XPS/ESCA, AES, SNMS, REM/EDX, AFM/SFM)
  • Mikrobereichsanalysen/Elementverteilungsbilder
    (ToF-SIMS, AES, EDX, Mikrosonde)
  • Tiefenprofile
    (ToF-SIMS, SNMS, XPS/ESCA)
  • Kristallografische Untersuchung
    (Röntgendiffraktometrie (XRD), TEM)
  • Topografie
    (REM, STM/AFM, Profilometrie)
  • Gläser, Keramiken, Holz, Papier
    (ICP-MS, ICP-OES, RFA, SNMS, AAS, XPS/ESCA, EDX, Mikrosonde)
  • Kunststoffe und Folien
    (FTIR, Raman, TGA, ToF-SIMS, AFM)
    - Identifizierung von Additiven (ToF-SIMS)
  • Pulver und Partikel
  • Öle und Fette
    (FTIR, Raman, TGA, ToF-SIMS)
    - Identifizierung von Additiven (ToF-SIMS)
  • Flüssigkeiten
    (AAS, ICP-MS, ICP-OES, ToF-SIMS)
  • Biomaterialien
    (ToF-SIMS, MALDI, REM/EDX)
  • Materialien im Bereich der Medizintechnik
  • Nanomaterialien
1

Entwicklungsbegleitende Analytik

2

Werkstoff- und Materialanalysen

3

Fehler- und Schadensfälle

4

Qualitätskontrollen

5

Oberflächen- und Grenzflächenanalysen

6

Mikrobereichsanalysen

7

Untersuchung von Beschichtungen

8

Analyse von Schichtsystemen

  • Das machen wir

    Das Verbundzentrum für Oberflächen- und Mikrobereichsanalysen (VOM) in Münster ist Ihr Ansprechpartner für die Bereiche Physik, Chemie, Medizin und Biowissenschaften.

    Wir lösen Problemstellungen aus der Forschungs- und Entwicklungsabteilung der Industrie.

     

    SEIT 1987 | UNABHÄNGIG | NEUTRAL | ZUVERLÄSSIG | SCHNELL