ICP-MS

(Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry)

Bei der ICP-MS wird wie bei der Atomemissionsspektroskpie die zu untersuchende Substanz in einem Ionisator durch ein induktiv gekoppelten Plasma ionisiert und dann aber mit einem Massenspektrometer analysiert. Durch die Art der Anregung liegen die im ICP erzeugten Ionen hauptsächlich einfach ionisiert als Atomionen vor, wodurch die Massenspektren übersichtlich und die Interpretation der Spektren vereinfacht wird.

Bedingt durch die Verhältnisse im Plasmaraum (p = 1 mbar, T = 6000 K) im Vergleich zum Analysator (Hochvakuum, p = 10-6 mbar ) ist ein relativ hoher apparativer Aufwand mittels differenziell gepumpter Druckstufen nötig, um diese beiden Umgebungen voneinander zu trennen.

Edelgase und die Elemente H, N, und O können präparationsbedingt nicht, sowie K, Br, P, S, Cl, F und Si nur sehr schlecht analysiert werden, daher ist die Methode für die Analyse organischer Proben nur sehr begrenzt einsetzbar.

Besondere Vorteile:

  • Extrem hohe Empfindlichkeit
  • anorganische Spurenanalytik
  • schnelle halbquantitative  Methode

  • Laterale Auflösung: Methodenbedingt keine
  • Tiefenauflösung: Methodenbedingt keine
  • Nachweisgrenze: stark materialabhängig
  • Quantifizierbarkeit: Standardadditionsverfahren: +-   3 % | Konzentrationskalibrierung: +-   5 % | Semiquantitiv: +-   30 % | in Spezialfällen auf Anfrage: +-   1 %

Anwendungsbereiche:

  • Nachweis anorganischer Spurenelemente in organischen Materialien
  • Nachweis von Metallen und Schwermetallen im Wasser


Probenbeschaffenheit:

  • wässrige Lösungen in PTFE, Polypropylen oder Quarzgefäßen
  • feste Proben werden in HNO3 aufgelöst
  • Proben werden zerstört
  • mindestens einige 100 µg Substanzmenge
  • biologische Proben als getrocknete, tiefgefrorene, gefriergetrocknete Proben bevorzugt
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Entwicklungsbegleitende Analytik

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Werkstoff- und Materialanalysen

3

Fehler- und Schadensfälle

4

Qualitätskontrollen

5

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6

Mikrobereichsanalysen

7

Untersuchung von Beschichtungen

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Analyse von Schichtsystemen

  • Das machen wir

    Das Verbundzentrum für Oberflächen- und Mikrobereichsanalysen (VOM) in Münster ist Ihr Ansprechpartner für die Bereiche Physik, Chemie, Medizin und Biowissenschaften.

    Wir lösen Problemstellungen aus der Forschungs- und Entwicklungsabteilung der Industrie.

     

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