Werkstoff- und Materialanalysen

Unser Angebot umfasst die Analyse von festen und flüssigen Materialien mit Nachweisgrenzen bis in den unteren ppB-Bereich und lateralen Auflösungen bis in den atomaren Bereich.

Wir untersuchen:

  • Stähle, andere Metalle und Halbleiter
    • Quantitative Zusammensetzung / Spurenelemente
      (ICP-MS, ICP-OES, RFA, GDMS, SNMS, AAS, XPS/ESCA, EDX, Mikrosonde)
    • Oberflächenzusammensetzung
      (ToF-SIMS, XPS/ESCA, AES, SNMS, REM/EDX, STM/AFM, TDMS)
    • Mikrobereichsanalysen/Elementverteilungsbilder
      (ToF-SIMS, Laser-SNMS, AES, EDX, Mikrosonde)
    • Tiefenprofile
      (ToF-SIMS, SNMS, XPS/ESCA, GDMS)
    • Kristallografische Untersuchung
      (Röntgendiffraktometrie (XRD), TEM)
    • Topografie
      (REM, STM/AFM, Profilometrie)

  • Gläser, Keramiken, Holz, Papier
    (ICP-MS, ICP-OES, RFA, SNMS, AAS, XPS/ESCA, EDX, Mikrosonde)

  • Kunststoffe und Folien (FTIR, Raman, TGA, ToF-SIMS, AFM)
    • Identifizierung von Additiven (ToF-SIMS)

  • Pulver und Partikel

  • Öle und Fette (FTIR, Raman, TGA, ToF-SIMS)
    • Identifizierung von Additiven (ToF-SIMS)

  • Flüssigkeiten (HPLC, AAS, ICP-MS, ICP-OES, ToF-SIMS)

  • Biomaterialien (ToF-SIMS, Laser-SNMS, MALDI)

  • Materialien im Bereich der Medizintechnik

  • Nanomaterialien