FIB Focused Ion Beam

Die Methode erlaubt die in situ- Präparation bei gleichzeitiger Beobachtung im REM zur Präparation von Querschnitten kleiner Proben oder sehr dünner Schichten mittels eines fokussierten Ionenstrahls mit einem Durchmesser von 5 bis 7 nm. Die Methode wird insbesondere für die Präparation von Dünnschnitten mit weniger als 100 nm Dicke für die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) und von Anschnitten für die Rasterelektronenmikroskpie (REM) eingesetzt.

Ultramikrotomie mit Kryoeinrichtung

Die Methode dient zur Präparation von ultra- und mitteldünnen Schnitten (Dicke: < 100 nm bis 5 µm) und von Tieftemperaturschnitten (Temperatur: -190 °C bis Raumtemperatur) an biologischen und technischen Proben. Die Methode eignet sich besonders für die Präparation von Anschnitten für die REM und AFM, sowie zu Herstellung von Dünnschnitten für die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM).

Quer- und Zielschliffe

Herstellung von Proben zur Untersuchung von Schichtaufbauten (Dicke, Zusammensetzung) und Freilegen von Einschlüssen. Die Methode eignet sich besonders zur Probenpräparation für die Raster-Elektronen-Mikroskopie und für die Lichtmikroskopie.