(X-Ray-Diffraction)

Bei der Röntgenbeugung wird die Oberfläche der zu untersuchenden Probe mit monochromatischer Röntgenstrahlung bestrahlt und die Intensität der durch Beugung reflektierten oder transmittierten  Röntgenstrahlung winkelaufgelöst gemessen.

Neben qualitativen Aussagen über die Art der Substanzen können aus den Diffraktogrammen exakte Aussagen über die aktuell vorliegende Kristallstruktur gewonnen werden.

Als Zusatzgerät dient eine Dünnschichteinrichtung zur Messung im Winkelbereich < 3°. Damit läßt sich die Informationstiefe auf die oberflächennahen Gebiete beschränken, wodurch Oberflächeneigenschaften von Volumeneffekten separierbar sind.

Besondere Vorteile:

• Bestimmung und Charakterisierung kristalliner und amorpher Phasen.
• Bestimmung der Kristallstruktur und kristallografischer Parameter.

• Laterale Auflösung: 1 mm x 1 mm
• Informationstiefe: Elementabhängig von ca. 1 µm bis 1 mm, mit Dünnschichteinrichtung im Winkelbereich < 3° von ca. 0.01 µm bis 10 µm
• Tiefenauflösung: Mit Dünnschichteinrichtung elementabhängig ca. 0.01 µm bis 0.1 µm
• Nachweisbare Elemente und Verbindungen: Alle Stoffe mit kristalliner Struktur
• Nachweisgrenze: Stark elementabhängig
• Quantifizierbarkeit: Mit Hilfe einer beigemischten, bekannten Substanz (innerer Standard) je nach Probenqualität innerhalb von 5   20%

Anwendungsbereiche:

• Identifizierung und Charakterisierung kristalliner Substanzen und
• Substanzgemische
• Unterscheidung von unterschiedlichen kristallinen und amorphen Phasen
• Bestimmung kristallografischer Parameter
• Bestimmung von Schichtdicken und Oberflächenrauhigkeiten
• Reihenmessungen zur Qualitätskontrolle

Probenbeschaffenheit:

• organische und anorganische Materialien
• Pulver
• Massive Proben
• Bei Einsatz der Dünnfilmeinrichtung: Ebene, glatte – am besten polierte – Oberflächen