Time of Flight - Secondary Ion Mass Spectrometry)
Bei der Time of Flight - Sekundärionenmassenspektrometrie wird die Oberfläche des Untersuchungsobjektes mit primären Ionen (meist Edelgas-, Gallium- oder Wismutionen) beschossen.
Hierdurch werden aus den obersten Atomlagen der Probe Sekundärteilchen (positive und negative Ionen sowie Neutralteilchen) freigesetzt, die aus einzelnen Atomen, aber auch aus Clustern und Fragmenten bestehen können.
Die emittierten Ionen (positiv oder negativ) werden mit einem Flugzeitmassen-spektrometer identifiziert und geben Aufschluss über die chemische Beschaffenheit der Probenoberfläche.
Besondere Vorteile:
Anwendungsbereiche:
Probenbeschaffenheit:
Das machen wir
Das Verbundzentrum für Oberflächen- und Mikrobereichsanalysen (VOM) in Münster ist Ihr Ansprechpartner für die Bereiche Physik, Chemie, Medizin und Biowissenschaften.
Wir lösen Problemstellungen aus der Forschungs- und Entwicklungsabteilung der Industrie.
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